移動(dòng)硬盤(pán)測(cè)速工具功能：
1.SEQ寫(xiě)入測(cè)試：
進(jìn)行10秒連續(xù)寫(xiě)入測(cè)試，單次寫(xiě)入量64MB，最多累計(jì)寫(xiě)入量10GB。
每64MB計(jì)算寫(xiě)入速度，最終結(jié)果取平均值。此項(xiàng)主要為創(chuàng)建測(cè)試文件，測(cè)試時(shí)間較短，結(jié)果可能不準(zhǔn)確。
2.4K隨機(jī)寫(xiě)入測(cè)試：
進(jìn)行15秒4K隨機(jī)寫(xiě)入測(cè)試
大約每500ms計(jì)算速度，結(jié)果取平均值。
3.調(diào)整4K
此項(xiàng)基于4K測(cè)試數(shù)據(jù)，經(jīng)處理得出。
因測(cè)試時(shí)間較短，不能得到磁盤(pán)的穩(wěn)定性能。
根據(jù)經(jīng)驗(yàn)及歷史測(cè)試數(shù)據(jù)，將后7.5秒比重加倍，較低值比重加倍，重新計(jì)算平均值。此項(xiàng)更接近磁盤(pán)在長(zhǎng)時(shí)間測(cè)試中表現(xiàn)出的性能。
4.寫(xiě)入延遲測(cè)試項(xiàng)(已于2.0刪除)
寫(xiě)入延遲（Acc.Time）性能參考：
<1ms 性能優(yōu)秀 （一般為SSD主控優(yōu)盤(pán)或SSD移動(dòng)硬盤(pán)）
1~10ms 性能良好 （SLC優(yōu)盤(pán)、移動(dòng)硬盤(pán)）
10~100ms 性能一般 （SLC優(yōu)盤(pán)、移動(dòng)硬盤(pán)）
>100ms 性能較差，不推薦制作Windows To Go （普通MLC優(yōu)盤(pán)）
等級(jí)
由高到低有Platinum、Gold、Silver、Bronze、Steel共5個(gè)等級(jí)。
推薦使用Gold及以上等級(jí)的設(shè)備制作Windows To Go，等級(jí)越高使用體驗(yàn)越好。
